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晶棒制备工艺简述

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发表于 2025-3-19 18:33:40 | 显示全部楼层 |阅读模式

半导体晶棒制备是晶圆制造的核心环节,其工艺流程可分为以下关键步骤:

  • 高纯度硅熔炼‌
    以电子级硅砂(SiO₂含量≥95%)为原料,经碳热还原反应生成冶金级硅,再通过三氯氢硅(SiHCl₃)提纯工艺获得纯度达99.9999999%(9N)以上的多晶硅‌。将多晶硅置于石英坩埚中,在氩气保护环境下加热至1420℃以上熔融成液态硅‌。

  • 晶种定向植入‌
    使用〈1.0.0〉或〈1.1.1〉晶向的单晶硅棒作为晶种,通过精密温控系统将其缓慢浸入硅熔液。初始阶段以0.5-2mm/min速度提拉,形成直径约6mm的细颈结构(Neck Growth),消除晶种内部晶格缺陷‌。

  • 晶冠扩展成型‌
    逐步降低提拉速度与熔液温度,使晶体直径从颈部扩展到目标尺寸(如200mm或300mm)。此阶段需保持±0.1mm的直径波动控制,确保晶棒锥形过渡区的结构稳定性‌。

  • 等径晶体生长‌
    采用闭环控制的直拉法(Czochralski法),通过实时监测熔液温度、提拉速度(典型值1-3mm/min)及坩埚旋转速度(10-20rpm),生长出长度1-2米、直径偏差≤±1mm的圆柱形单晶硅锭‌。

  • 晶棒后处理‌


    • ‌端部切除‌:用金刚石线锯去除头尾直径不达标部分(约占总长15%)‌
    • ‌外径研磨‌:采用数控磨床配合氧化铝砂轮,将表面粗糙度从Ra3.2μm降至Ra0.4μm,圆度误差控制在5μm以内‌
    • ‌晶向标识‌:通过X射线衍射法检测晶向,在晶棒侧面激光刻制定位平面或凹槽(Notch)作为后续加工基准‌

该工艺需在百级洁净环境下进行,最终获得的晶棒电阻率均匀性可达±5%,位错密度低于500/cm²,满足半导体器件制造需求‌。


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