边发射激光器(EEL)的外延结构设计与生长是实现高性能器件的核心环节,其技术要点如下: 一、外延结构设计 二、外延生长工艺MOCVD技术
- 采用金属有机化合物气相沉积(MOCVD)系统,在无偏角Si(001)衬底上外延生长GaAs等材料,优化反应室压力(如800 mbar)和温度控制;
- 通过调节掺杂浓度(如n型/P型掺杂)和组分梯度,改善载流子输运与光场限制效果。
缺陷控制
- 采用衬底预处理(如RCA清洗)和氢化退火工艺,减少界面缺陷对少数载流子寿命的影响;
- 通过外延层厚度和生长速率优化,降低位错密度。
三、性能优化与测试掺杂与波导优化
- 利用电化学C-V(ECV)测试系统分析掺杂分布,确保载流子浓度均匀性;
- 通过光荧光频谱(PL)测试评估有源区发光效率及波长特性。
模式特性调控
- 调整波导层厚度(如n型/P型波导层)和覆层折射率,优化横向和纵向光场限制,实现单模或高功率输出。
四、发展趋势未来研究可结合多结级联技术(类似垂直腔面激光器的功率提升方案),进一步优化边发射激光器的功率密度和电光转换效率,拓展其在无人驾驶、光通信等领域的应用。
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