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半导体镀膜工艺英文术语的详细解析

以下是清理后的半导体镀膜常用英文术语汇总:一、核心镀膜工艺
[*]‌Plated Film‌
通过化学或电化学沉积形成的膜层,常用于金属层制备。
[*]‌PVD (Physical Vapor Deposition)‌
物理气相沉积,包括溅射(Sputtering)和蒸发(Evaporation)两种主要形式。
[*]‌CVD (Chemical Vapor Deposition)‌
化学气相沉积,通过气体化学反应在基片表面生成薄膜。
[*]‌ALD (Atomic Layer Deposition)‌
原子层沉积,实现原子级精度的薄膜控制。
[*]‌Electroplating‌
电镀技术,通过电解反应沉积金属层(如铜互连工艺)。
二、关键技术与设备
[*]‌Magnetron Sputtering‌
磁控溅射技术,利用磁场提高溅射效率和膜层均匀性。
[*]‌Cluster Tool‌
集成多工艺模块的设备,可完成刻蚀、镀膜等连续步骤。
[*]‌Anti-Reflective Coating (ARC)‌
防反射涂层,用于光刻工艺中减少光反射。
[*]‌PECVD (Plasma-Enhanced CVD)‌
等离子体增强化学气相沉积,降低反应温度并提升薄膜质量。
三、性能参数与检测
[*]‌Film Thickness‌
膜厚,直接影响器件的电学性能。
[*]‌Uniformity‌
膜层均匀性,衡量镀膜质量的核心指标。
[*]‌Stress‌
膜层内应力,过高会导致基片翘曲或膜层开裂。
[*]‌Resistivity‌
电阻率,导电膜层的关键电学参数。
四、关联工艺
[*]‌Intermetal Dielectric (IMD)‌
金属间介电层,用于隔离不同金属层。
[*]‌Planarization‌
平坦化,通过化学机械研磨(CMP)实现表面平整。
[*]‌Front-End Process‌
前道工艺,包含镀膜、光刻、刻蚀等晶圆制造步骤。
[*]‌Back-End Process‌
后道工艺,涉及封装和测试。
以上术语覆盖半导体镀膜全流程,适用于工艺开发、设备操作及质量检测等场景。
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